L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu'il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L'application la plus connue est sans aucun doute l'imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l'échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l'une des variantes de l'AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l'échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux.Ce petit livre a été réalisé dans la continuité du Tome I (" RMN Express "), afin que le lecteur puisse découvrir les aspects techniques et fondamentaux de l'AFM. Afin d'illustrer les potentialités de la technique, l'auteur aborde également quelques domaines d'application, parmi les plus en vue dans la communauté scientifique.

La RMN (Résonance Magnétique Nucléaire) est un moyen d'investigation incontournable qui intéresse l'ensemble de la communauté scientifique. L'application la plus connue du grand public est sans conteste l'IRM (Imagerie par Résonance Magnétique), technique directement dérivée de la RMN.Dans ce petit livre, à la présentation inhabituelle (schémas et clichés sur les pages de droite; explications plus approfondies et développements théoriques sur les pages de gauche), les auteurs abordent bon nombre d'aspects fondamentaux de la RMN et de l'IRM tout en indiquant clairement les différents domaines d'application. Pour que cet ouvrage soit accessible à tous et qu'il ne soit pas trop volumineux, ils se sont volontairement limités à la RMN en phase liquide et aux noyaux de spin ½.