AFM Express. Guide pratique pour la Microscopie à Force Atomique - exploration du « nanoMonde »



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L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux.

Ce petit livre a été réalisé dans la continuité du Tome I (« RMN Express »), afin que le lecteur puisse découvrir les aspects techniques et fondamentaux de l’AFM. Afin d’illustrer les potentialités de la technique, l’auteur aborde également quelques domaines d’application, parmi les plus en vue dans la communauté scientifique.

Titre AFM Express. Guide pratique pour la Microscopie à Force Atomique - exploration du « nanoMonde »
Éditeur Presses universitaires de Nancy - Editions Universitaires de Lorraine
Mots clés Médecine
Public visé 06 Professionnel et académique
Description public visé Universitaires
Crédit Presses Universitaires de Nancy
Date de première publication du titre 14 novembre 2011
Support Livre broché
Nb de pages 38 p.
ISBN-10 2-8143-0087-3
ISBN-13 978-2-8143-0087-3
GTIN13 (EAN13) 9782814300873
Référence 113582-47
Date de publication 14 novembre 2011
Nombre de pages de contenu principal 38
Format 21 x 15 x 0,3 cm
Poids 94 gr
Prix 8,00 €
 
113582-47


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